更新时间:2024-12-20
孔径测量,可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。
孔径测量
这是一台在很多校准实验室采用的标定环规的计量设备,由于其*的设计和可靠的表现至今没有被其他产物代替。可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。孔径测量这是一台可以测量百万分之内外尺寸的仪器,同时可以用来测量一些高精度的盘类零件。
孔径测量技术描述
测量范围: 内尺寸: 300mm,外尺寸:279mm
重复精度; ±0.025µm
测头量程: ±40µm
示值误差:0.25%量程
测头材料:金刚石
重量:306办驳
仪器高度:1422尘尘
工作台尺寸:279mm x 406mm
占地尺寸:406mm x 508mm
数字输出接口搁厂232颁
电源:230V±10% 50-60Hz