在工业生产和质量检测领域,射线镀层测厚仪是一款具有价值的精密设备。
X-strata 920 射线测厚仪产物特性
• 适应性设计,可对各种产物进行可靠分析
• 自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
• 直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
• 多准直器设计为每个样品提供高准确性
• 选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
• 符合行业规范,例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
• 简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果
• X-strata 920 射线测厚仪,强大的光学分析单层和多层镀层,包括合金层
